{"id":14473,"date":"2022-10-26T00:00:00","date_gmt":"2022-10-26T00:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/compatibilidad-electromagnetica-emc\/"},"modified":"2022-10-26T00:00:00","modified_gmt":"2022-10-26T00:00:00","slug":"compatibilidad-electromagnetica-emc","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/compatibilidad-electromagnetica-emc\/","title":{"rendered":"Compatibilidad electromagn\u00e9tica (EMC)"},"content":{"rendered":"<p> La compatibilidad electromagn\u00e9tica (CEM) es la capacidad de los equipos y sistemas el\u00e9ctricos de funcionar satisfactoriamente en su entorno electromagn\u00e9tico sin introducir perturbaciones electromagn\u00e9ticas intolerables a cualquier cosa en ese entorno. <br \/>\n La norma internacional de compatibilidad electromagn\u00e9tica, IEC 61000, define los siguientes cuatro tipos de emisiones electromagn\u00e9ticas: <\/p>\n<p> 1. Descargas electrost\u00e1ticas (ESD) <br \/>\n 2. Campos EM conducidos 2. Campos electromagn\u00e9ticos conducidos 4. Campos magn\u00e9ticos <\/p>\n<p> La descarga electrost\u00e1tica es la liberaci\u00f3n repentina de electricidad est\u00e1tica de un objeto a otro. Puede da\u00f1ar los componentes electr\u00f3nicos sensibles. Los campos EM conducidos son generados por el flujo de corriente en los cables u otros conductores. Pueden acoplarse directamente a los circuitos electr\u00f3nicos sensibles y causar interferencias. Los campos electromagn\u00e9ticos radiados son generados por corrientes oscilantes en los cables u otros conductores. Pueden acoplarse indirectamente a los circuitos electr\u00f3nicos sensibles y causar interferencias. Los campos magn\u00e9ticos son generados por el flujo de corriente en cables u otros conductores, y por imanes permanentes. Pueden acoplarse directamente a los circuitos electr\u00f3nicos sensibles y causar interferencias. <br \/>\n Las normas de CEM especifican los l\u00edmites de las emisiones electromagn\u00e9ticas de los equipos y sistemas el\u00e9ctricos. Tambi\u00e9n especifican los m\u00e9todos que deben utilizarse para comprobar el cumplimiento de esos l\u00edmites. <\/p>\n<h3>\u00bfCu\u00e1l es la diferencia entre EMC y EMI?<\/h3>\n<p> La compatibilidad electromagn\u00e9tica (CEM) es la capacidad de los equipos y sistemas el\u00e9ctricos para funcionar satisfactoriamente en su entorno electromagn\u00e9tico, sin causar o ser afectados por interferencias electromagn\u00e9ticas (IEM) inaceptables. <\/p>\n<p> La interferencia electromagn\u00e9tica (EMI) es cualquier distorsi\u00f3n de una se\u00f1al electromagn\u00e9tica causada por fuentes externas. Las IEM pueden interferir en el correcto funcionamiento de los equipos electr\u00f3nicos o causar efectos no deseados en personas o animales. <\/p>\n<h5> \u00bfCu\u00e1ntos componentes tiene la CEM?<\/h5>\n<p> Hay cuatro componentes de la CEM: <\/p>\n<p> 1. La fuente de alimentaci\u00f3n <br \/>\n 2. El procesador El procesador <br \/>\n 3. La memoria <br \/>\n 4. Los dispositivos de E\/S <\/p>\n<h3> \u00bfCu\u00e1les son los distintos tipos de pruebas de CEM?<\/h3>\n<p> Las pruebas de CEM se utilizan para evaluar la capacidad de los dispositivos y sistemas electr\u00f3nicos para funcionar correctamente en presencia de interferencias electromagn\u00e9ticas (EMI). Hay tres tipos principales de pruebas de CEM: <\/p>\n<p> 1. Pruebas de emisiones: Este tipo de prueba eval\u00faa la capacidad de un dispositivo o sistema para emitir energ\u00eda electromagn\u00e9tica. Normalmente se realiza midiendo la cantidad de energ\u00eda electromagn\u00e9tica emitida por el dispositivo sometido a prueba y compar\u00e1ndola con los l\u00edmites de emisi\u00f3n establecidos por los organismos reguladores. <br \/>\n 2. Pruebas de inmunidad: Este tipo de prueba eval\u00faa la capacidad de un dispositivo o sistema para resistir los efectos de las interferencias electromagn\u00e9ticas. Normalmente se realiza exponiendo el dispositivo bajo prueba a diferentes niveles de interferencia electromagn\u00e9tica y observando su rendimiento. <br \/>\n 3. Pruebas de susceptibilidad: Este tipo de prueba eval\u00faa la capacidad de un dispositivo o sistema para funcionar correctamente en presencia de interferencias electromagn\u00e9ticas. Normalmente se realiza midiendo la cantidad de energ\u00eda electromagn\u00e9tica que afecta al rendimiento del dispositivo sometido a prueba, y compar\u00e1ndola con los l\u00edmites de susceptibilidad establecidos por los organismos reguladores.   \u00bfQu\u00e9 es un bucle de tierra en la instrumentaci\u00f3n?  Un bucle de tierra es una corriente el\u00e9ctrica no deseada que fluye entre dos o m\u00e1s puntos de conexi\u00f3n a tierra en un sistema. Esta corriente puede causar problemas en el funcionamiento de los equipos electr\u00f3nicos, y puede ser un peligro para la seguridad. <\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>La compatibilidad electromagn\u00e9tica (CEM) es la capacidad de los equipos y sistemas el\u00e9ctricos de funcionar satisfactoriamente en su entorno electromagn\u00e9tico sin introducir perturbaciones electromagn\u00e9ticas intolerables a cualquier cosa en ese entorno. La norma internacional de compatibilidad electromagn\u00e9tica, IEC 61000, define los siguientes cuatro tipos de emisiones electromagn\u00e9ticas: 1. Descargas electrost\u00e1ticas (ESD) 2. Campos EM conducidos &#8230; <a title=\"Compatibilidad electromagn\u00e9tica (EMC)\" class=\"read-more\" href=\"https:\/\/techlib.net\/techedu\/compatibilidad-electromagnetica-emc\/\" aria-label=\"Leer m\u00e1s sobre Compatibilidad electromagn\u00e9tica (EMC)\">Leer m\u00e1s<\/a><\/p>\n","protected":false},"author":4110,"featured_media":0,"comment_status":"open","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"footnotes":""},"categories":[5],"tags":[],"class_list":["post-14473","post","type-post","status-publish","format-standard","hentry","category-hardware"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/14473","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/users\/4110"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=14473"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/14473\/revisions"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=14473"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=14473"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/techlib.net\/techedu\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=14473"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}