La exploración de límites es una técnica utilizada para probar las interconexiones entre los dispositivos de una placa de circuito impreso (PCB). También se conoce como prueba JTAG (Joint Test Action Group).
El escaneo de límites se puede utilizar para comprobar los cortocircuitos, las aperturas y los errores de cableado entre los dispositivos de una placa de circuito impreso. También se puede utilizar para probar la funcionalidad de los dispositivos en una PCB.
Para realizar la prueba de escaneo de límites, se utiliza un CI especial llamado controlador de escaneo de límites. El controlador de escaneo de límites se conecta a la PCB a través de la interfaz de escaneo de límites. El controlador de escaneo de límites envía patrones de prueba a los dispositivos de la PCB y observa las respuestas.
La prueba de barrido de límites es un método de prueba no intrusivo, lo que significa que no requiere la apertura de los dispositivos ni el uso de sondas. Esto hace que el escaneo de límites sea un método de prueba ideal para PCBs con muchos componentes o diseños complejos.
¿Qué es la cadena de exploración en VLSI?
La cadena de exploración es un tipo de diseño de circuito utilizado en la integración a muy gran escala (VLSI) para mejorar la capacidad de prueba y depuración del circuito integrado (IC). En una cadena de exploración, los flip-flops u otros elementos secuenciales del circuito están conectados entre sí en una configuración de registro de desplazamiento. Esto permite que el estado de todo el circuito se desplace dentro y fuera de la cadena de exploración en cada ciclo de reloj.
Las cadenas de escaneo se utilizan a menudo junto con el escaneo de límites, una técnica en la que las entradas y salidas del CI están conectadas a la cadena de escaneo para que puedan ser probadas sin tener que acceder físicamente a ellas.
¿Cómo se realiza el escaneo de límites?
El escaneo de límites es una tecnología que puede utilizarse para verificar la corrección de las interconexiones entre los pines de un dispositivo y el resto del circuito. También puede utilizarse para probar el propio dispositivo.
La técnica de escaneo de límites fue propuesta por primera vez en 1985 por el Grupo de Acción de Pruebas Conjuntas (JTAG), que se formó para estandarizar las pruebas de las placas de circuitos impresos. El estándar JTAG (IEEE 1149.1) define un conjunto de registros de prueba que pueden ser utilizados para controlar el dispositivo bajo prueba y para observar su salida.
Para utilizar el escaneo de límites, el dispositivo debe tener un controlador de escaneo de límites, que suele ser una pequeña pieza de lógica integrada en el dispositivo. Se accede al controlador de escaneo de límites a través de una interfaz especial, llamada Test Access Port (TAP).
El TAP consiste en un conjunto de cuatro o cinco pines, que se utilizan para controlar el controlador de escaneo de límites y para cambiar los datos dentro y fuera del dispositivo. Los pines del TAP están conectados a los pines del dispositivo a través de los registros de escaneo de límites.
La técnica de escaneo de límites se puede utilizar para probar las interconexiones entre los pines de un dispositivo y el resto del circuito. Para ello, el controlador de escaneo de límites se utiliza para conducir los pines del dispositivo con patrones de prueba y observar los resultados.
La técnica de escaneo de límites también puede utilizarse para probar el propio dispositivo. Esto se hace desplazando vectores de prueba en el dispositivo a través de los registros de escaneo de límites y observando los resultados.
La técnica de barrido de límites puede utilizarse para probar dispositivos digitales, como microprocesadores, dispositivos de memoria y dispositivos lógicos. También se puede utilizar para probar dispositivos analógicos, como amplificadores y filtros.
¿Cómo puedo crear un archivo BSDL?
1. Descargue el generador de Boundary Scan Description Language (BSDL) del sitio web de JTAG Technologies.
2. 2. Ejecute el generador de BSDL.
3. Introduzca la información necesaria sobre su dispositivo, como el nombre del dispositivo, el fabricante y el número de pieza.
4. Seleccione la familia de dispositivos y el tipo de dispositivo adecuados.
5. Elija el formato de salida deseado para el archivo BSDL.
6. 6. Haga clic en el botón "Generar" para generar el archivo BSDL.